介質(zhì)損耗測試儀也稱(chēng)為抗干擾介質(zhì)損耗測試儀，采用變頻zhi電源技術(shù)，利用單片機和電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換、模/數轉換和數據運算，自動(dòng)化，智能化，測量數據在強干擾條件下是穩定的，但測試數據在使用中顯然是不合理的通常如下。

       在現場(chǎng)測試時(shí)，用鉤桿對產(chǎn)品進(jìn)行檢測時(shí)，吊鉤須與試驗產(chǎn)品良好接觸，否則接觸件的排放會(huì )引起嚴重的數據波動(dòng)，特別是在過(guò)厚的氧化層或空氣管擺動(dòng)的排水管中導致接觸不良。

       接地不良也會(huì )引起儀表保護數據的嚴重波動(dòng)，接地點(diǎn)的涂層應報廢，零電阻接地。

       用端蓋法測量電磁式PT時(shí)，由水分引起的T形網(wǎng)絡(luò )干擾引起的負介電損耗可以用常規法或端壓法測量，直接測量CVT的低耦合電容會(huì )導致負的介電損耗，因此應采用自激法。

       由于長(cháng)期使用，容易造成試驗線(xiàn)隱性短路，芯線(xiàn)屏蔽層短路或與插頭接觸不良，用戶(hù)應始終維護測試線(xiàn)。當測試標準電容器測試產(chǎn)品時(shí)，應使用全屏蔽插頭來(lái)消除額外雜散電容的影響，否則，介質(zhì)損耗測試儀的精度就無(wú)法反映出來(lái)。自勵方法是測量VT中的C，非高壓線(xiàn)路應暫停，否則，附加的雜散電容和介質(zhì)損耗會(huì )導致地面測量誤差。

       使用萬(wàn)用表測量測試電路是否開(kāi)路，或芯線(xiàn)和屏蔽是否短路，輸入功率過(guò)高或過(guò)低，接地良好，使用正極或負極導線(xiàn)測量具有已知電容和介質(zhì)損耗的標準電容器或電容器樣品，如果結果正確，則可判斷儀器故障。